随着电路保护与电磁兼容技术重要性的日益凸显，越来越多的企业沿着测试—整改—再测试的方法进行产品的电路保护和EMC测试试验，频频遇到难点和挑战。好的产品是设计得来的，而不是测试得来的！为引导大家站在设计的高度，解决各种电路保护与电磁兼容问题，电子元件技术网再度携手电子展组委会，于4月10日在深圳会展中心六楼桂花厅隆重举行第十一届电路保护与电磁兼容研讨会，从方案、架构、系统、结构、元件选型、单机、测试结合的高度探讨设计思想、设计方法与设计技巧，并携手众多国际国内知名厂家和行业专家，带来电路保护和电磁兼容在LED照明、智能手机及消费电子等领域的最新技术应用趋势。

领先技术厂商论剑设计难题

国际和国内领先保护电路和电磁兼容技术公司AEM科技、美国Bourns、村田、太阳诱电、君耀电子等，将在研讨会分享最新的技术解决方案和选型设计指南。
AEM科技分享交流保险丝应用技术及小型贴片化趋势，从LED照明及小功率电源的发展趋势小体积、贴片化、低成本化、生产自动化方面，来寻求小型贴片交流保险丝的解决方案；美国Bourns分享简单有效的整合线路防护方案，从传统及TBU防护方案在过压协调的区别入手，剖析TBU在浪诵和交流电搭接反应，以及TBU和其他保护元件的混合使用；村田分享面向手机的先进的EMC和ESD保护解决方案；太阳诱电分享智能手机的EMC元件方案，提供在模块加速多性能化、高速通信、自动化情况下的噪音新对策；君耀电子分享消费电子产品的ESD防护方案，特别是TVS Diode Array在消费电子产品中的应用。

特邀资深专家奉送精品课程

研讨会特邀中国电子学会高级会员EMC首席专家马永健和工信部电子五所质检中心副主任朱文立现场讲座。马永健讲解如何进行“产品EMC的设计技术平台建设”，帮助企业在进行产品开发时，就能够轻易地把大部分EMC问题解决于研发前期，减少产品成本，缩短面市周期。朱文立针对2011年全国手机质量监督抽查中发现的比较突出的电磁兼容问题（包括静电放电抗扰度、电源端传导骚扰电压、辐射骚扰场强等项目），分析出现问题的原因，并有针对性地提出相应的对策和措施。